谷物智能考种系统 - 主要产品及服务 - 铁岭东升玉米品种试验中心

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谷物智能考种系统

系统介绍

考种封面.png

系统可通过摄像头实时采集图像或导入已拍摄好的图片两种方式来获取谷物籽粒、整穗、截面等图片信息，然后对获取的图片进行籽粒、整穗、截面考种分析。系统还可以测量百粒重、千粒重以及数据汇总功能。

01

籽粒考种指标

可识别籽粒数量、粒长、粒宽、籽粒投影面积、粒周长和重量。

可手动选择输入籽粒类型、籽粒颜色。

考种籽粒.png

02

整穗考种指标

可识别穗数、穗长、穗粗、穗周长、穗投影面积、行数、行粒数、穗粒数、秃尖长、秃尖比例和重量。

可手动选择输入穗型。

考种整穗.png

03

截面考种指标

可识别轴截面数、轴外径、内径粗、行粒数和重量。

可手动选择输入轴色。

考种截面.png

系统特点

软件页面

考种软件.png

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